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性能特点
最高电阻精度：0.1 %；电阻最小分辨：1mΩ
最高方阻精度：5%；电阻最小分辨：1mΩ
被测件厚度可预设,电阻率测试无需查表
零底数设计，微弱电阻测试无需清零
多种探头可选,应对各种特性材料的方阻电阻率测试
3档比较功能: 合格/超上限/超下限
电阻/方阻/电阻率可切换显示
符合GB/T 1551-2021
适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、 太阳能材料、陶瓷等，也可直接测量电阻器
产品介绍
CXT2662系列四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备。该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。
仪器选配 U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232/485接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据,方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于半导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种半导体、类半导体材料、导体材料及各种新材料的导电性能的测试。
适用范围：
适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试。配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻。
产品描述
电阻测试范围1mΩ-20KΩ;方阻测试范围1mΩ/□-20KΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸。
